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高分辨场发射扫描电子显微镜+能谱仪
场发射扫描电子显微镜(FESEM)是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率,能用于各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像观察及图像处理。配备高性能X射线能谱仪(牛津,Ultim® Max 65)能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,从而使该设备具有形貌、化学组分综合分析能力。
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